Spettroscopia fotoelettronica a raggi X: differenze tra le versioni

Il principio==Principio di funzionamento è il seguente:<br/>==

Dunque si rileva l'energia cinetica dell'elettrone espulso e si risale alla sua [[energia di legame]], indicativa dell'elemento chimico interessato.

Si tratta di una tecnica superficiale poiché solo gli elettroni eccitati in prossimità della superficie riescono a fuoriuscire dal campione senza subire interazioni con conseguenti perdite di energia e riescono dunque a conservare l'informazione che trasportano. Dunque si possono sondare i primi strati atomici del materiale (una profondità di qualche [[nanometro]]).

Come sorgente viene utilizzato un tubo a [[raggi X]]. Esso è composto da un filamento attraversato da [[corrente elettrica|corrente]] e tenuto a un potenziale più negativo rispetto a una griglia che gli sta davanti. Il filamento emette elettroni per [[effetto termoionico]], questi vengono accelerati verso l'[[anodo]] per la [[differenza di potenziale]] e vanno a collidere contro una targhetta di [[metallo]] (generalmente [[alluminio]]) posta in prossimità della griglia (l'anodo). Gli elettroni penetrano all'interno della targhetta e perdono energia per vari fenomeni. Tra i vari vi è la perdita di energia per frenamento (interazione degli elettroni con i [[atomo|nuclei atomici]]) che causa emissione di raggi X (ogni particella carica sottoposta ad accelerazione emette [[radiazione elettromagnetica]]), e la emissione di raggi X caratteristici. Questa avviene quando l'elettrone subisce un [[urto]] anelastico e provoca lo scalzamento di un elettrone della targhetta che lascia una vacanza alle sue spalle. In un tempo breve (il tempo di rilassamento dell'atomo) un altro elettrone va ad occupare la vacanza da un livello più esterno o dal livello di vuoto attraverso una transizione radiativa cui è associata l'emissione di un fotone di energia pari alla differenza di energia dei due livelli atomici coinvolti.