Spettroscopia fotoelettronica a raggi X: differenze tra le versioni

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La '''spettroscopia fotoelettronica a raggi X''', comunemente indicata con '''XPS''' o '''XPES''' ([[acronimo]] dell'[[lingua inglese|inglese]] ''X-ray photoelectron spectroscopy''), chimataè ancheuna '''spettroscopiatecnica elettronicadi per analisi chimiche''' o '''spettroscopia elettronica per applicazioni chimiche''' e indicata con l'[[acronimo]]spettroscopia [[lingua inglese|inglesefotoelettronica]], '''ESCA'''per (dala electron spectroscopy for chemical analysis o electron spectroscopy for chemical applications) èprecisione una tecnica di [[spettroscopia fotoelettronicaESCA]], utilizzata per sondare le superfici dei materiali. Essa consente infatti di conoscere gli [[elementi chimici]] che compongono la superficie di un materiale e di determinarne talvolta lo stato di [[legame chimico|legame]].
 
==Principio di funzionamento==