Peter Hirsch

Peter Bernhard Hirsch (Berlino, 16 gennaio 1925) è un accademico britannico che ha dato un contributo fondamentale all'applicazione della microscopia elettronica a trasmissione ai metalli.[1] [2] Hirsch ha frequentato la Sloane School, Chelsea e il St Catharine's College, Cambridge. Nel 1946 è entrato a far parte del Dipartimento di Cristallografia del Cavendish per lavorare per un dottorato di ricerca sull'incrudimento dei metalli con W.H. Taylor e Lawrence Bragg.[3] Successivamente eseguì lavori, tuttora citati, sulla struttura del carbone.

A metà degli anni '50 è stato il pioniere dell'applicazione della microscopia elettronica a trasmissione (TEM) ai metalli e ha sviluppato in dettaglio la teoria necessaria per interpretare tali immagini. È stato Fellow del Christ's College di Cambridge dal 1960 al 1966 ed è stato eletto Honorary Fellow di Christ's nel 1978. Nel 1965, con Howie, Whelan, Pashley e Nicholson, pubblicò il testo Microscopia elettronica di cristalli sottili.[4] L'anno successivo si è trasferito a Oxford per assumere la cattedra Isaac Wolfson in Metallurgia, succedendo a William Hume-Rothery . Ha ricoperto questo incarico fino al suo pensionamento nel 1992, trasformando il Dipartimento di Metallurgia (ora Dipartimento di Materiali) in un centro di fama mondiale. Tra le tante altre onorificenze, è stato insignito del Premio Wolf nel 1983 in fisica. È stato eletto alla Royal Society nel 1963 e nominato cavaliere nel 1975. È un collega del St Edmund Hall, Oxford.

NoteModifica

  1. ^ (EN) Sir Peter Hirsch FRS - Emeritus Professor of Materials, su materials.ox.ac.uk. URL consultato il 22 gennaio 2021.
  2. ^ A. J. Wilkinson e P. B. Hirsch, Electron diffraction based techniques in scanning electron microscopy of bulk materials, in Micron, vol. 28, n. 4, 1997, pp. 279–308, DOI:10.1016/S0968-4328(97)00032-2, arXiv:1904.05550.
  3. ^ (EN) Anthony Kelly, Lawrence Bragg's interest in the deformation of metals and 1950–1953 in the Cavendish – a worm's-eye view, in Acta Crystallographica Section A, vol. 69, n. 1, 1º gennaio 2013, pp. 16–24, DOI:10.1107/s0108767312034356, ISSN 0108-7673 (WC · ACNP), PMID 23250056.
  4. ^ P. B. Hirsch, A. Howie e R. B. Nicholson, Electron microscopy, in Physics Today, vol. 19, n. 10, 1966, pp. 93, Bibcode:1966PhT....19j..93H, DOI:10.1063/1.3047787.

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