Spettrofotometria XRF: differenze tra le versioni

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La '''spettrofotometria XRF''' (''X-ray fluorescence'') è una tecnica di analisi non distruttiva che permette di conoscere la composizione [[elemento chimico|elementale]] di un campione attraverso lo studio della radiazione di [[fluorescenza X caratteristica|'''fluorescenza X''' caratteristica]]. Tale radiazione è emessa dagli atomi del campione in seguito a [[ionizzazione]], che si ottiene tipicamente irraggiando il campione con [[raggi X]] e [[raggi gamma|gamma]] ad alta energia; effetti analoghi si hanno utilizzando fasci di ioni (in questo caso si parla di analisi [[PIXE]]).
 
È ampiamente utilizzata in [[chimica analitica]], [[biologia]], [[medicina]], [[fisica dell'atmosfera]], [[metallurgia]], studio dei [[beni culturali]].