Spettrofotometria XRF: differenze tra le versioni
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Si distinguono due sistemi principali per Analisi XRF:
# XRF a dispersione di lunghezza d'onda (acronimo WD XRF). In questa tecnica, la radiazione emessa (Fluorescenza) viene dispersa geometricamente da un cristallo, in modo che le diverse energie, cioè le diverse righe dello spettro, possano essere rilevate in funzione dell'angolo di dispersione, analogamente a quanto avviene con un comune spettrofotometro UV-VIS.
# XRF a dispersione di energia (acronimo ED XRF): in questo caso, la radiazione fluorescente, emessa dal campione in analisi, viene tutta raccolta da un detector, per lo più a stato solido, tipicamente un semiconduttore
La WD XRF presenta vantaggi di migliore risoluzione di elementi con righe di emissione vicine, soprattutto nella regione dei bassi numeri atomici. Tuttavia richiede per lo più elevate potenze dei tubi di eccitazione e le apparecchiature sono più grandi e costose.<br />
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