Spettrofotometria XRF: differenze tra le versioni
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La '''spettrofotometria XRF''' (''X-ray fluorescence spectroscopy'' o X-ray fluorescence) è una tecnica di analisi non distruttiva che permette di conoscere la composizione [[elemento chimico|elementale]] di un campione attraverso lo studio della radiazione di [[fluorescenza X]]. Tale radiazione è emessa dagli atomi del campione in seguito a eccitazione (che può dare anche [[effetto fotoelettrico]]), che si ottiene tipicamente irraggiando il campione con [[raggi X]] e [[raggi gamma|gamma]] ad alta energia; effetti analoghi si hanno utilizzando fasci di ioni.
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# XRF a dispersione di lunghezza d'onda (acronimo WD XRF). In questa tecnica, la radiazione emessa (Fluorescenza) viene dispersa geometricamente da un cristallo, in modo che le diverse energie, cioè le diverse righe dello spettro, possano essere rilevate in funzione dell'angolo di dispersione, analogamente a quanto avviene con un comune spettrofotometro UV-VIS.
# XRF a dispersione di energia (acronimo ED XRF): in questo caso, la radiazione fluorescente, emessa dal campione in analisi, viene tutta raccolta da un detector, per lo più a stato solido, tipicamente un semiconduttore, ad esempio Silicio driftato Litio. Questo detector è in grado di trasformare i fotoni X a differente energia in impulsi elettrici di differente intensità che, raccolti e analizzati elettronicamente, consentono di ricostruire ed analizzare lo spettro XRF del campione.
La WD XRF presenta vantaggi di migliore risoluzione di elementi con righe di emissione vicine, soprattutto nella regione dei bassi numeri atomici. Tuttavia richiede per lo più elevate potenze dei tubi di eccitazione e le apparecchiature sono più grandi e costose.
La ED XRF ha il vantaggio di fornire analisi simultanea di molti elementi e consente di produrre strumenti anche di piccole dimensioni o portatili.
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